| Nama merek: | APG |
| Waktu Pengiriman: | 4-5 minggu |
| Ketentuan Pembayaran: | T/T |
Target Sputtering Niobium Oksida adalah target keramik oksida fungsional penting yang umum digunakan dalam sputtering, deposisi laser pulsa (PLD), dan proses deposisi film tipis lainnya. Target ini memiliki stabilitas kimia dan sifat listrik yang baik, bersama dengan transparansi dan sifat anti-reflektif yang sangat baik.
l Stabilitas Kimia
Niobium oksida menunjukkan stabilitas luar biasa pada suhu kamar, menunjukkan reaksi minimal dengan asam dan basa. Hal ini membuatnya ideal untuk aplikasi di lingkungan yang korosif secara kimia, mempertahankan kinerja yang stabil dalam kondisi kimia yang keras.
l Kinerja Elektrokimia
Niobium oksida menunjukkan stabilitas elektrokimia dan sifat transpor elektron yang sangat baik, menjadikannya bahan yang ideal untuk perangkat penyimpanan energi seperti baterai dan kapasitor.
l Properti Optik Unggul
Target Sputtering Niobium Oksida memiliki indeks bias tinggi dan karakteristik dispersi rendah, menjadikannya bahan yang ideal untuk memproduksi elemen optik seperti filter dan lapisan lensa.
l Properti Isolasi Listrik
Niobium oksida adalah isolator listrik yang sangat baik dengan konstanta dielektrik tinggi, menjadikannya sangat penting dalam industri mikroelektronika dan semikonduktor.
l Perangkat Elektronik
Aplikasi inti dari Target Sputtering Niobium Oksida adalah pada perangkat elektronik, memanfaatkan konstanta dielektrik tinggi (ε≈25-40), kerapatan arus bocor rendah, dan sifat semikonduktor dari film Nb₂O₅.
l Optik
Film Nb₂Ox memiliki indeks bias tinggi (1,9-2,3 dalam rentang cahaya tampak), transparansi tinggi (≥90%), dan stabilitas optik. Indeks bias tinggi dan transparansi optik yang baik dari niobium oksida membuat film banyak digunakan dalam pandu gelombang optik, lapisan anti-reflektif, dan detektor fotolistrik, secara signifikan meningkatkan kinerja dan efisiensi optik perangkat.
l Memori Akses Acak Dinamis (DRAM)
Target Sputtering Niobium Oksida digunakan sebagai lapisan dielektrik konstanta dielektrik tinggi dalam sel penyimpanan DRAM, menggantikan SiO₂ dan HfO₂ tradisional, memungkinkan kapasitansi yang lebih tinggi pada area yang sama dan mencapai integrasi memori berdensitas tinggi.